MC方案｜如何快速无损测量多层钙钛矿薄膜厚度？

钙钛矿广泛用于太阳能电池的开发。由于这些类型的太阳能电池具有良好的光伏性能，因此对它们进行了系统的研究。钙钛矿薄膜的厚度和形态是影响太阳能电池性能的重要因素。人们发现，特别当钙钛矿的厚度小于400nm时，钙钛矿太阳能电池的效率很大程度上取决于薄膜厚度；而当钙钛矿的厚度大于400nm时，效率则很大程度上取决于钙钛矿层的薄膜形态。在本篇方案说明中，我们使用FR-pRo VIS/NIR测量钙钛矿薄膜的厚度。

 FR-pRo VIS/NIR

测量方法：用于表征的样品是两种不同厚度的CH3NH3PbBr3钙钛矿薄膜，它们位于标准ITO/SiO2/Soda-lime基底上，如图1所示。使用ThetaMetrisis FR-pRo VIS/NIR进行反射测量，在350-1020nm的光谱范围内操作。

 结果：两种样品的典型获得的反射光谱（黑线）和拟合的反射光谱（红线），如FR监控软件所示，分别在图2a 和 图2b中所示。两种测量方法的拟合在500-750nm光谱范围内进行，样品1中钙钛矿薄膜的厚度在516.9nm处测量，而样品2中的厚度在394.4nm处测量。

 图2a：样品1的实验和拟合反射光谱，在515nm处测得的厚度。

图2b：样品2的实验和拟合反射光谱，在392nm处测得的厚度。

膜厚仪操作便捷，分析结果快速准确，多款型号，可满足广泛的应用范围，后期我们将持续为您推送更多实际应用案例，希望帮助您达到实验结果Z 优化。

免责声明：矿库网文章内容来源于网络，为了传递信息，我们转载部分内容，尊重原作者的版权。所有转载文章仅用于学习和交流之目的，并非商业用途。如有侵权，请及时联系我们删除。感谢您的理解与支持。